蔡司工业CT扫描可以用来提供详细的内部测量，而无需拆卸零件或产品。除了用于各种计量和检验应用构建的三维模型外，还可以分析CT扫描期间生成的横截面二维图像。

如果蔡司工业CT测量出现误差，可以从以下几个方面入手分析：

在使用高精度外形尺寸测量结果校准蔡司工业CT数据时，尤其是使用平板探测器的系统，需要进行校准。

尺寸应包括样品的Y和XZ平面（即平行和垂直于检测器的平面）。蔡司工业CT数据中单个像素的大小在这两个方向上往往不相等，这取决于重建矩阵的选择。

因此，在蔡司工业CT扫描过程中，样品的顶部和底部表面应尽可能与 X 射线平行，或尽量避免样品上下瑞面与旋转轴垂直，否则样本上下端面采样不足，会导致$DK重构。采样不足造成的重构可以通过改变样品放置方式来解决。

在投影图像重建过程中，主要影响因素是射线硬化和射线散射引起的图像。硬化和散射伪影导致图像的灰度分布偏离真实分布，带来困难。

到随后的测量和阈值样式。如果伪像没有得到正确校正，测量的可靠性将降低。

一般来说，为了减少射线硬化的影响，可以在收集数据时通过放置预滤波器进行调整，也可以通过后续硬化校正算法进行改进。

以上就是蔡司工业CT测量误差的分析，如果您还有其它有关蔡司工业CT的问题，请及时联系我们，我们会有专业的人员为您解决问题。